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老(lǎo)化測試系統(inline aging動(dòng)态式)

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所屬分(fēn)類 : 老(lǎo)化測試
零售價
0.0

◆設備适用
适用:LCD/OLED
樣品尺寸:OPEN CELL

 

◆工(gōng)作(zuò)流程
Loader->插線->buffer Lifter->Aging Chamber->拔線->Unloader

 

◆設備參數:
·cell過壓檢測,多(duō)路真空設計,防止掉片與壓片;
·智能(néng)計算機芯片對(duì)發熱流道溫度進行(xíng)實施探測;
·PID控制(zhì)自(zì)動(dòng)調節溫度、輸出功率等參數測量計算;
·控制(zhì)精度爲±3℃,溫度控制(zhì)範圍爲50°℃~60°℃ ;
·CCD定位,伺服模組調整參數,保證放片精度;
·配備離子(zǐ)bar ;
·BOX四邊定位,保證定位精度,通(tōng)過伺服自(zì)動(dòng)調整,自(zì)動(dòng)調整間(jiān)距﹔·Spacer防抖動(dòng)設計,吹氣裝置與防靜電(diàn)軟毛刷,防止帶片,粘片;
·對(duì)射光(guāng)電(diàn)開關檢測BOX層數,高度可(kě)調整;
·cell取片與裝箱之上方,增加FFU ;
·可(kě)實現高速移載及自(zì)動(dòng)插拔。

 

大尺寸inline aging

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